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高溫環(huán)境XRD即X-raydiffraction，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線是一種波長很短(約為20～0.06nm)的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線中，包含與靶中各種元素對應的具有特定波長的X射線，稱為特征（或標識）X射線。x射線是一種具有較短波長的高能電磁波，由原子內(nèi)層軌道中電子躍遷或高能電子減速所產(chǎn)生。X射線...

巖礦分析，顧名思義，就是應用各種礦物學原理與方法，通過礦物的光、電、聲、熱、磁、重、硬度、氣味等以及其主要的化學成分特征，對巖石、礦物樣品、包括光（?。┢?、砂片、碎屑、粉未進行觀察、鑒定以區(qū)別其他礦物類別，以及研究巖石、礦石的主要礦物組成、礦物成生序列，結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、巖（礦）石類型的技術(shù)方法?，F(xiàn)代地球物理學是將數(shù)學、物理、計算機與傳統(tǒng)地學緊密結(jié)合的學科；是利用高精度測量儀器探測地球內(nèi)部結(jié)構(gòu)、動力和演化，進行資源勘查與開發(fā)利用、地質(zhì)災害預測和防治、工程勘測、生態(tài)環(huán)境保護以及污染監(jiān)...

普通掃描電鏡是一種利用電子進行成像的顯微鏡，由英文ScanningElectronMicroscope直譯得名，簡稱為掃描電鏡。由于電子的德布羅意波長遠小于可見光的波長，掃描電鏡具有比光學顯微鏡高得多圖像分辨率，使我們擁有在亞原子尺度上觀察微觀世界的能力。掃描電鏡噴金幾乎可以對所有類型的樣本進行圖像處理，陶瓷、金屬、合金、半導體、聚合物、生物樣品等。然而，某些特定類型的樣品更具有挑戰(zhàn)性，并且需要操作者進行額外的樣品制備，以便借助掃描電鏡噴金收集高質(zhì)量圖片。這些額外的步驟包括在...

臺式電鏡是一個復雜的系統(tǒng)，濃縮了電子光學技術(shù)、真空技術(shù)、精細機械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計算機控制等技術(shù)。是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過多級電磁透鏡匯集成細?。ㄖ睆揭话銥?~5nm）的電子束（相應束流為10-11~10-12A）。在末級透鏡上方掃描線圈的作用下，使電子束在試樣表面做光柵掃描（行掃+幀掃）。入射電子與試樣相互作用會產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線等各種信息。臺式電鏡直觀的用戶界面、簡便的觸摸屏控制，以及各項自動調(diào)節(jié)功能，使用戶僅需極少的培訓，就可以得到高質(zhì)量的圖像...

近年來，我國國民經(jīng)濟的持續(xù)高速發(fā)展刺激了對鋼鐵的需求，同時也拉動了煉焦生產(chǎn)的高速度發(fā)展。焦炭產(chǎn)能的快速擴張導致煉焦煤供應緊張，煉焦煤價格大幅度升高，又由于高爐大型化、噴吹煤粉等技術(shù)的應用，對焦炭質(zhì)量提出了更高的要求，致使優(yōu)質(zhì)煉焦煤供應更加緊張。同時，由于焦炭產(chǎn)能過剩，焦炭價格低迷。焦化行業(yè)面臨著煤炭資源供應緊張和經(jīng)濟效益低下的雙重壓力，如何合理利用煤炭資源，提高企業(yè)經(jīng)濟效益，滿足鋼鐵工業(yè)持續(xù)發(fā)展是擺在焦化企業(yè)面前的緊迫任務，也是長期任務。煤巖分析系統(tǒng)是用于煤田地質(zhì)勘探、煤礦開...

掃描電子顯微鏡，簡稱為掃描電鏡，英文縮寫為SEM（ScanningElectronMicroscope）。它是用細聚焦的電子束轟擊樣品表面，通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等對樣品表面或斷口形貌進行觀察和分析。SEM已廣泛應用于材料、冶金、礦物、生物學等領域。SEM掃描電鏡由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室等部件組成。作用：獲得掃描電子束、作為產(chǎn)生物理信號的激發(fā)源。為了獲得較高的信號強度和圖像分辨率，掃描電子束應具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑。電子槍利用...

低溫環(huán)境XRD已成為了解溫度、氣氛或壓力對材料影響*的技術(shù)。除了與研究相關(guān)外，這些知識對于優(yōu)化技術(shù)流程和進行工業(yè)質(zhì)量控制也至關(guān)重要。通過實時監(jiān)測樣品在不同溫度條件下的結(jié)晶情況，分析其衍射圖譜可以得到不同溫度條件下的半峰寬、強度、晶面間距以及晶粒尺寸等信息，從而研究樣品的相變、結(jié)晶度變化規(guī)律。低溫環(huán)境XRD采用環(huán)境降溫的方式，溫度探頭測試的為內(nèi)層密封罩內(nèi)低溫惰性氣體的溫度，當腔體內(nèi)溫度達到平衡后，樣品表面的溫度近似與腔體內(nèi)溫度相等，故此時監(jiān)測的溫度為樣品表面溫度，測試的圖譜為該...